AFM/SPM用テストサンプル

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分野

分析・検査
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教育

メーカー

TipsNano（エストニア）

正規代理店

概要

原子間力顕微鏡(AFM)、走査型プローブ顕微鏡(SPM)用のテストサンプルです。
学生実験や、AFM/SPMの動作確認や設定調整などにご使用頂けます。

特長

・用途の異なる3モデルを用意
・ステップ高さ0.75 nm、1.5nmのサンプル
・線状DNA分子サンプル
・圧電応答力顕微鏡モード用サンプル
・低価格

仕様

■ テストサンプル

● SiC/0.75, SiC/1.5

6H-SiC(0001)ベースのサンプルで、垂直方向の移動をサブナノメートル間隔で校正可能です。
各層のステップ高は0.75nm、または1.5nmでお選び頂けます。

Model	SiC/0.75	SiC/1.5
Chip size	5 x 5 x 3 mm
Average interstep distance	0.15 – 0.4 µm	0.2 – 0.5 µm
Misorientation of surface	~ 0.2°	~ 0.3°
Single step height	0.75 nm	1.5 nm
Average roughness of the area between steps (terraces)	0.09 nm

● DNA01

SmaIエンドヌクレアーゼで線状化したプラスミドpGem7zf+ (Promega)を雲母上に沈着させたサンプルです。
直鎖状DNA分子(3000bp)で、分子密度−0.5-7分子/μm2、DNA長1009nm(typical)で表面に均一に分布しています。
イメージ取得時の推奨湿度は3〜5％です。

● PFM03

粗さ10 nm未満のニオブ酸リチウム（LiNbO ₃）単結晶の500μm厚のプレートを極軸に対して垂直にカットしたサンプルです。
自発分極は、隣接するドメインでは反対方向です。分極方向は、圧電係数の符号を決定します。変調電圧の印加中の局所圧電応答の分析により、ドメインパターンを明らかにすることができます。

・圧電応答力顕微鏡（PFM）モードの設定
・変調電圧パラメータ（周波数、位相、振幅）の最適化
・PFMモードでのテスト測定