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表面/界面分析用SFGシステム
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和周波発生(SFG)分光測定装置
1スペクトルを数秒で測定可能な超高速の次世代和周波分光計測装置
スペクトル測定 約3秒 | ハイパースペクトルイメージング測定可能
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