計測

-80℃冷却 暗電流を最小限に抑えたSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : -80℃ (水冷) | 波長範囲 : 900~1700 nm
読出しノイズ : 30e@HG | 暗電流 : 100e/p/s | オフセット/ゲイン補正有

高分解能・高安定性に優れたシリコンセンサーを搭載したピエゾステージ
1軸：Ｚ〜500 (μm) 　|　Ｘ〜1500 (μm) 　|　Θ〜5、10ｍrad
クローズドループ制御　　|　対物レンズ装着型　|　ウェルプレート対応型

高分解能・高安定性に優れたシリコンセンサーを搭載したピエゾステージ
XYストローク：10×10 (μm) 〜 600×600 (μm) 　|　クローズドループ制御　
薄型モデル　|　大開口付きモデル　|　２軸チルトモデル

高分解能・高安定性に優れたシリコンセンサーを搭載したピエゾステージ
XYZストローク：30×30×５(μm) 〜 300×300×300 (μm)
クローズドループ制御　|　薄型モデル　|　大開口付きモデル

レーザー光の偏光状態を電圧印加で制御可能な電気光学結晶
対応中心波長　1064nm, 1030nm, 800nm　|　開口部　Φ2.5～7 mm
透過率　> 98％　|　コントラスト比　>1：500または> 1：1000

通過するレーザー光の偏光状態を電圧印加で制御可能な電気光学結晶
対応中心波長　515～1064nm、6種　|　開口部　～Φ18 mm
透過率　> 97％　|　コントラスト比　>1：1000または> 1：2000

通過するレーザー光の偏光状態を電圧印加で制御可能な電気光学結晶
対応中心波長　1064nm　|　開口部　Φ3.5～7.5 mm
透過率　> 98％　|　コントラスト比　>1：500

要望に沿って構成をお選びいただけるモジュール方式のラマン分光装置
対応波長　532nm、785nm　|　持ち運び容易
低価格　|　要望に沿ったモジュール構成が可能

キュベット内のサンプルを温度制御しながら分光測定が可能なキュベットホルダー
温度制御範囲　+5～+105℃(標準)　|　 対応ポート数　2～4
撹拌用スターラー機能付き　|　豊富なラインナップ

SMA接続型の光ファイバーケーブル、反射測定用プローブ、液浸プローブのラインナップ
コア径 ： 400、600、1000 μm　|　対応波長 ： 190～2200nm
直線型ファイバー、多分岐ファイバー　|　ファイバー長のカスタム可能

SMA接続用のコリメートレンズと小型拡散板
コリメートレンズ　190～2200 nm　|　小型拡散板　200～1700 nm
SMA接続　|　低価格

透過測定の際にご使用いただける透過測定用冶具
入射角度　45度、90度　|　低価格

SMA接続用の低価格キュベットホルダー
対応波長範囲　190 ～ 2200 nm　|　光路長　1 cm
Z軸高さ　15 mm　|　SMA接続

光路長標準10mm、石英ガラス窓材の小型フローセル
光路長　2.5～100 mmで選択可能　|　容量　2～260 μl
透過・吸収測定用モデル、蛍光測定用モデル　|　材質選択可能

簡単操作のファイバー接続タイプの小型積分球
対応波長範囲　最大200～1700 nm　|　サイズ　Φ2インチ～Φ12インチ
堅牢設計　|　低価格

反射測定用の標準サンプル、膜厚測定用標準サンプルのラインナップ
拡散反射用標準サンプル　|　鏡面反射標準サンプル
膜厚測定用標準サンプル

StellarNet社製小型分光器と一緒に使用する外部トリガー用アクセサリ
Jack-IN Trigger出力　|　0～5 V TTL出力
シグナルディレイ　< 500 ns　|　VIS-NIRフォトダイオード使用

高ブロッキング性能・高透過率で許容入射角が広いロングパスフィルター
高ブロッキング性能　OD > 6　|　高透過率　> 90%
優れたエッジ急峻度　|　高耐久性・長寿命

高いブロッキング性能と透過率を持つハードコート仕様のエッジフィルター
高ブロッキング性能　OD > 6　|　高透過率　> 90%
優れたエッジ急峻度　数十cm^-1 ～　|　高耐久性・長寿命

高いブロッキング性能と透過率を持つハードコート仕様のノッチフィルター
高ブロッキング性能　OD > 6　|　高透過率　> 90%
狭帯域バンド幅　10 nm ～　|　高耐久性・長寿命