計測

SXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 1280×1024 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 19000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

VGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 19000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

アナログ出力が可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×480(EIA) 640×512(CCIR) | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 400~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

低価格かつ堅牢 VGAフォーマットSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : 非冷却 | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | オフセット/ゲイン/補正有

SXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 18e@HG | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

高フレームレート測定可能
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 900~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | フレームレート : 300 Hz | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

10μmピクセルピッチ採用 高分解能測定に最適
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
ピクセルピッチ : 10 μm×10 μm | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

kHzレートでの測定が可能なSWIRカメラ
画素数 : 320×256 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 400~1700 nm
読出しノイズ : 225e@HG | フレームレート : kHzオーダー(ROI時) | オフセット/ゲイン補正有

低ノイズかつSXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 1280×1024 | 冷却 : TEC (-15 ℃) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 4000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

低ノイズかつVGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (-15 ℃) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 22e@HG | 暗電流 : 3000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

-80℃冷却 暗電流を最小限に抑えたSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : -80℃ (水冷) | 波長範囲 : 900~1700 nm
読出しノイズ : 30e@HG | 暗電流 : 100e/p/s | オフセット/ゲイン補正有

高分解能・高安定性に優れたシリコンセンサーを搭載したピエゾステージ
1軸：Ｚ〜500 (μm) 　|　Ｘ〜1500 (μm) 　|　Θ〜5、10ｍrad
クローズドループ制御　　|　対物レンズ装着型　|　ウェルプレート対応型

高分解能・高安定性に優れたシリコンセンサーを搭載したピエゾステージ
XYストローク：10×10 (μm) 〜 600×600 (μm) 　|　クローズドループ制御　
薄型モデル　|　大開口付きモデル　|　２軸チルトモデル

高分解能・高安定性に優れたシリコンセンサーを搭載したピエゾステージ
XYZストローク：30×30×５(μm) 〜 300×300×300 (μm)
クローズドループ制御　|　薄型モデル　|　大開口付きモデル

レーザー光の偏光状態を電圧印加で制御可能な電気光学結晶
対応中心波長　1064nm, 1030nm, 800nm　|　開口部　Φ2.5～7 mm
透過率　> 98％　|　コントラスト比　>1：500または> 1：1000

通過するレーザー光の偏光状態を電圧印加で制御可能な電気光学結晶
対応中心波長　515～1064nm、6種　|　開口部　～Φ18 mm
透過率　> 97％　|　コントラスト比　>1：1000または> 1：2000

通過するレーザー光の偏光状態を電圧印加で制御可能な電気光学結晶
対応中心波長　1064nm　|　開口部　Φ3.5～7.5 mm
透過率　> 98％　|　コントラスト比　>1：500

要望に沿って構成をお選びいただけるモジュール方式のラマン分光装置
対応波長　532nm、785nm　|　持ち運び容易
低価格　|　要望に沿ったモジュール構成が可能

キュベット内のサンプルを温度制御しながら分光測定が可能なキュベットホルダー
温度制御範囲　+5～+105℃(標準)　|　 対応ポート数　2～4
撹拌用スターラー機能付き　|　豊富なラインナップ

SMA接続型の光ファイバーケーブル、反射測定用プローブ、液浸プローブのラインナップ
コア径 ： 400、600、1000 μm　|　対応波長 ： 190～2200nm
直線型ファイバー、多分岐ファイバー　|　ファイバー長のカスタム可能