計測

天体観測に適した1600万画素の広視野・高解像度冷却CCDカメラ
高解像度 1600万画素　|　冷却温度 ΔT ≧ -50℃　|　読出ノイズ 9 e^–
画素サイズ　 6 x 6 μm　|　モノクロ、カラーモデルあり

小型望遠鏡にも取り付け可能な軽量・コンパクトの低価格CCDカメラ
高解像度 130万画素　|　フレームレート　18 fps@フル解像度
画素サイズ　3.75 x 3.75 μm　|　モノクロ、カラーの両モデルあり

610万画素・低ノイズ・高ダイナミックレンジ低価格CCDカメラ
610万画素　|　最大ΔT-40℃(＠空冷, typical)　|　読出ノイズ 3.1 e^– RMS
画素サイズ　4.54 x 4.54 μm　|　モノクロモデル

830万画素・低ノイズ・高ダイナミックレンジ低価格CCDカメラ
830万画素　|　最大ΔT-45℃(＠空冷, typical)　|　読出ノイズ 8 e^– RMS
画素サイズ　5.4 x 5.4 μm　|　モノクロモデル

919万画素・低ノイズ・高ダイナミックレンジ低価格CCDカメラ
919万画素　|　最大ΔT-40℃(＠空冷, typical)　|　読出ノイズ 3.1 e^– RMS
画素サイズ　3.69 x 3.69 μm　|　モノクロモデル

1200万画素・低ノイズ・高ダイナミックレンジ低価格CCDカメラ
1200万画素　|　最大ΔT-40℃(＠空冷, typical)　|　読出ノイズ 1.6 e^– RMS
画素サイズ　3.1 x 3.1 μm　|　モノクロモデル

ツェルニターナ型を採用した高スループット・高分解能の高性能分光器
焦点距離　20、35、52、75 cm　|　非点収差を抑えたイメージングモデルあり
グレーティング 最大4枚搭載可能　|　出射ポート　最大2

上下2段に異なるグレーティングを搭載した2つの独立したスペクトルチャンネルを持つ分光器
独立駆動の2段グレーティング　|　2つの独立したスペクトルチャンネル
幅広い波長域と高波長分解能の同時測定可能　|　出射ポート 2

高波長分解能・低迷光・高F値を誇る高性能ダブル分散分光器
焦点距離　2×500 mm　|　非点収差を抑えたイメージングモデルあり
グレーティング 最大4枚(2×2ペア)同時搭載可能　|　低迷光

2つの対物レンズを持つ水平対称構成でデザインされたイメージング分光器
焦点距離 約100 mm　|　非点収差・色収差を抑えたレンズ光学系を採用
高イメージング性能　|　高スループット F値　F/3.3

SXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 1280×1024 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 19000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

VGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 19000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

アナログ出力が可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×480(EIA) 640×512(CCIR) | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 400~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

堅牢 VGAフォーマットSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : 非冷却 | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | オフセット/ゲイン/補正有

SXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 18e@HG | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

高フレームレート測定可能
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 900~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | フレームレート : 300 Hz | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

10μmピクセルピッチ採用 高分解能測定に最適
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
ピクセルピッチ : 10 μm×10 μm | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

kHzレートでの測定が可能なSWIRカメラ
画素数 : 320×256 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 400~1700 nm
読出しノイズ : 225e@HG | フレームレート : kHzオーダー(ROI時) | オフセット/ゲイン補正有

低ノイズかつSXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 1280×1024 | 冷却 : TEC (-15 ℃) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 4000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

低ノイズかつVGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (-15 ℃) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 22e@HG | 暗電流 : 3000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有