教育

ラマン分光や干渉計などに最適
最大出力 : 500 mW | 多波長 : 405~830 nm | Windows用ソフトウェア付属
波長安定度 : <0.015 nm| コヒーレンス長 : 最大2.0 m

組み込み・省スペース化に最適
最大出力 : 75 mW | 多波長 : 375~1550 nm | Windows用ソフトウェア付属
出力 : コリメート空間出力 or ファイバー出力(FC-APC)

レーザーシグナル増強用にAu反射コートを持つ AFM/SPM用プローブ
曲率半径　6nm(typical)　|　反射側Auコーティング
導電性コーティング可能 (PtIr、Au)　|　豊富なラインナップ

共振周波数・力定数の公差が抑えられた安価なAFM/SPM用プローブ
曲率半径　< 10nm(typical)　|　反射側Auコーティング
導電性コーティング可能 (PtIr、Au、W2C)　|　1本で2種の測定に対応

カンチレバーの先端が真上から観察可能な飛び出し型AFM/SPM用プローブ
曲率半径　6nm(typical)　|　カンチレバー先端が観察可能
導電性コーティング可能 (Pt、Au)　|　1本で2種の測定に対応

ティップ先端に傾斜角度で延伸したティップを持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　<10nm(typical)　|　反射側Auコーティング
10°または20°のティップ傾斜角度　|　深い溝、垂直な側壁の測定に有効

ドリルのような細長いティップ形状を持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　5～8 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
深い溝、垂直な側壁の測定に有効　|　1本で2種の測定に対応

曲率半径1～3 nmのDLCティップを備えた高分解能AFM/SPM用プローブ
曲率半径　1～3 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
数nmサイズの超微小物体に最適　|　ダイヤモンドライクカーボン(DLC)使用

曲率半径2 nmのティップを備えた高分解能AFM/SPM用プローブ
曲率半径　2 nm(typical)　|　反射側Alコーティング
数nmサイズの超微小物体に最適　|　スーパーシャープティップ

ダイヤモンドコートされて優れた耐摩耗性を持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　～100 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
優れた耐摩耗性、長寿命　|　1本で2種の測定に対応

単結晶ダイヤモンドに導電性付与した高耐久性・長寿命AFM/SPM用プローブ
曲率半径　7 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　ホウ素ドープにより導電性あり

高い機械的負荷やスクラッチテスト用に作製されたAFM/SPM用プローブ
曲率半径　2～25 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　曲率半径の異なる3モデル

アプローチしやすく、トポグラフィ用途に適したAFM/SPM用プローブ
曲率半径　2～25 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　サンプル表面の静電荷に鈍感

サイズ校正されたSiO2スフィアを固定したAFM/SPM用プローブ
SiO2スフィア　2～15 μm(typical)　|　3種類のモデル
相互作用の研究に有用　|　摩擦力測定・接着力測定

ティップのない、カンチレバーだけのAFM/SPM用プローブ
ティップなし　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　チップ両端に異なるカンチレバーあり

AFM/SPMの観察用基板やテストサンプルに適したHOPG
モザイクスプレッド異なる3モデルを用意　|　複数サイズを用意、特注サイズも対応
平坦で滑らかな表面　|　導電性あり

AFM/SPMの各種校正や評価にお使いいただける校正用グレーティング
豊富なラインナップ　9種類　|　XYZ軸校正やティップ形状評価など
低価格　|　数のグレーティングをまとめた安価なセットあり

AFM/SPMの動作確認用や設定調整などに適したテスト用サンプル
用途の異なる3モデルを用意　|　低価格
ステップ高さ0.75nm、1.5 nmのサンプル　|　線状DNA分子サンプル

多くの優れた特徴を持つ、レーザー光の波長変換用にも使用可能なBBO結晶ラインナップ
広い透過波長範囲　|　大きな非線形係数
高いダメージ閾値　|　高い光学的均一性

多くの優れた特徴を持つ、レーザー光の波長変換用にも使用できるLBO結晶ラインナップ
広い透過波長範囲　|　小さなウォークオフ角
高いダメージ閾値　|　高い光学的均一性