分析・検査
製品一覧
低ROICノイズ VGA VIS-SWIRカメラ Owl 640 N
SXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 18e@HG | オフセット/ゲイン/ダーク補正有
高フレームレート VGA SWIRカメラ Owl 640 S
高フレームレート測定可能
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 900~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | フレームレート : 300 Hz | オフセット/ゲイン/ダーク補正有
高分解能 VIS-SWIRカメラ Owl 640 T
10μmピクセルピッチ採用 高分解能測定に最適
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
ピクセルピッチ : 10 μm×10 μm | オフセット/ゲイン/ダーク補正有
高速 VIS-SWIRカメラ Owl 320 HS
kHzレートでの測定が可能なSWIRカメラ
画素数 : 320×256 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 400~1700 nm
読出しノイズ : 225e@HG | フレームレート : kHzオーダー(ROI時) | オフセット/ゲイン補正有
ペルチェ冷却型SXGA VIS-SWIRカメラ Ninox 1280
低ノイズかつSXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 1280×1024 | 冷却 : TEC (-15 ℃) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 4000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有
ペルチェ冷却型VGA VIS-SWIRカメラ Ninox 640 Ⅱ
低ノイズかつVGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (-15 ℃) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 22e@HG | 暗電流 : 3000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有
-80℃冷却 VGAフォーマット InGaAsカメラ Ninox 640 SU
-80℃冷却 暗電流を最小限に抑えたSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : -80℃ (水冷) | 波長範囲 : 900~1700 nm
読出しノイズ : 30e@HG | 暗電流 : 100e/p/s | オフセット/ゲイン補正有
プローブ型ラマン分光システム Ramanシリーズ
要望に沿って構成をお選びいただけるモジュール方式のラマン分光装置
対応波長 532nm、785nm | 持ち運び容易
低価格 | 要望に沿ったモジュール構成が可能
分光測定用小型フローセル MFCシリーズ
光路長標準10mm、石英ガラス窓材の小型フローセル
光路長 2.5~100 mmで選択可能 | 容量 2~260 μl
透過・吸収測定用モデル、蛍光測定用モデル | 材質選択可能
拡散/正反射板 RSシリーズ
反射測定用の標準サンプル、膜厚測定用標準サンプルのラインナップ
拡散反射用標準サンプル | 鏡面反射標準サンプル
膜厚測定用標準サンプル
蛍光測定用フィルターセット
3種の高性能フィルターで構成された蛍光測定用フィルターセット
高ブロッキング性能 | 高透過率・高反射率
低価格 | 高耐久性・長寿命
蛍光測定用バンドパスフィルター
高いブロッキング性能・高透過率の蛍光測定用バンドパスフィルター
高ブロッキング性能 OD > 5 | 高透過率 > 85%~
低価格 | 高耐久性・長寿命
蛍光測定用ダイクロイックミラー/フィルター
高透過率・高反射率を持つハードコート仕様のダイクロイックフィルター
広い動作波長範囲 | 高透過率・高反射率 > 90%
低価格 | 高耐久性・長寿命
小型ビームプロファイラー BeamPro compact footprintシリーズ
スペースが限られた場所でも測定可能な薄型ビームプロファイラー
測定波長 190~1100 nm | 小さなフットプリント
解像度 最大3864×2176画素 | 取り回しが容易な小型・薄型デザイン
大面積・小型 ビームプロファイラー BeamPro large areaシリーズ
大面積1インチセンサー使用のビームプロファイラー
測定波長 190~1100 nm | 大面積測定
解像度 最大4512×4512画素 | コンパクトデザイン
高分解能・大面積・小型 ビームプロファイラー BeamPro small pixelsシリーズ
高分解能でビームパラメーターが測定可能な低価格ビームプロファイラー
測定波長 190~1100 nm | 画素サイズ 最小1.85 μm
解像度 最大5472×3648画素 | コンパクトデザイン
周波数分解光ゲート法超短パルス測定装置 FROGシリーズ
周波数分解光ゲート法を利用した超短パルス用のパルス幅測定装置
対応パルス幅 4 fs ~80 ps | 対応波長範囲 480~2100 nm
コンパクトデザイン | 多機能ソフトウェア付属
超短パルス測定用オートコリレーター ROCシリーズ
正確で取り扱い容易な超短パルス幅測定用オートコリレーター
対応パルス幅 4 fs ~80 ps | 対応波長範囲 480~2200 nm
コンパクトデザイン | 多機能ソフトウェア付属
フェムト秒Tiサファイアレーザー TiF
2光子顕微鏡やトモグラフィー用光源に最適
波長可変域 : 715~980 nm(TiF-100) | 最大出力 : 1.55 W(TiF-100)
パルス幅 : 12~50 fs(TiF-SP) | 専用ソフトウェア付属
広帯域フェムト秒OPO TOPOL
多光子顕微鏡、SHG顕微鏡などに最適
波長可変域 : 680~4030 nm | 繰返し周波数 : 80±5 MHz | パルス幅 : <150 fs
平均出力 : 最大1200 mW ~ | 波長制御 : PC
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