分析・検査
製品一覧
低価格・高解像度CCDカメラ QSI 690
919万画素・低ノイズ・高ダイナミックレンジ低価格CCDカメラ
919万画素 | 最大ΔT-40℃(@空冷, typical) | 読出ノイズ 3.1 e– RMS
画素サイズ 3.69 x 3.69 μm | モノクロモデル
低価格・高解像度CCDカメラ QSI 6120
1200万画素・低ノイズ・高ダイナミックレンジ低価格CCDカメラ
1200万画素 | 最大ΔT-40℃(@空冷, typical) | 読出ノイズ 1.6 e– RMS
画素サイズ 3.1 x 3.1 μm | モノクロモデル
2チャンネルイメージング分光器 NP250-2
上下2段に異なるグレーティングを搭載した2つの独立したスペクトルチャンネルを持つ分光器
独立駆動の2段グレーティング | 2つの独立したスペクトルチャンネル
幅広い波長域と高波長分解能の同時測定可能 | 出射ポート 2
SXGA VIS-SWIRカメラ Owl 1280
SXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 1280×1024 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 19000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有
VGA VIS-SWIRカメラ Owl 640 II
VGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 19000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有
アナログ出力 VGA VIS-SWIRカメラ Owl 640 A
アナログ出力が可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×480(EIA) 640×512(CCIR) | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 400~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | オフセット/ゲイン/ダーク補正有
VGA VIS-SWIRカメラ Owl 640 M
堅牢 VGAフォーマットSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : 非冷却 | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | オフセット/ゲイン/補正有
低ROICノイズ VGA VIS-SWIRカメラ Owl 640 N
SXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 18e@HG | オフセット/ゲイン/ダーク補正有
高フレームレート VGA SWIRカメラ Owl 640 S
高フレームレート測定可能
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 900~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | フレームレート : 300 Hz | オフセット/ゲイン/ダーク補正有
高分解能 VIS-SWIRカメラ Owl 640 T
10μmピクセルピッチ採用 高分解能測定に最適
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
ピクセルピッチ : 10 μm×10 μm | オフセット/ゲイン/ダーク補正有
高速 VIS-SWIRカメラ Owl 320 HS
kHzレートでの測定が可能なSWIRカメラ
画素数 : 320×256 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 400~1700 nm
読出しノイズ : 225e@HG | フレームレート : kHzオーダー(ROI時) | オフセット/ゲイン補正有
ペルチェ冷却型SXGA VIS-SWIRカメラ Ninox 1280
低ノイズかつSXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 1280×1024 | 冷却 : TEC (-15 ℃) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 4000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有
ペルチェ冷却型VGA VIS-SWIRカメラ Ninox 640 Ⅱ
低ノイズかつVGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (-15 ℃) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 22e@HG | 暗電流 : 3000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有
-80℃冷却 VGAフォーマット InGaAsカメラ Ninox 640 SU
-80℃冷却 暗電流を最小限に抑えたSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : -80℃ (水冷) | 波長範囲 : 900~1700 nm
読出しノイズ : 30e@HG | 暗電流 : 100e/p/s | オフセット/ゲイン補正有
プローブ型ラマン分光システム Ramanシリーズ
要望に沿って構成をお選びいただけるモジュール方式のラマン分光装置
対応波長 532nm、785nm | 持ち運び容易
低価格 | 要望に沿ったモジュール構成が可能
分光測定用小型フローセル MFCシリーズ
光路長標準10mm、石英ガラス窓材の小型フローセル
光路長 2.5~100 mmで選択可能 | 容量 2~260 μl
透過・吸収測定用モデル、蛍光測定用モデル | 材質選択可能
拡散/正反射板 RSシリーズ
反射測定用の標準サンプル、膜厚測定用標準サンプルのラインナップ
拡散反射用標準サンプル | 鏡面反射標準サンプル
膜厚測定用標準サンプル
蛍光測定用フィルターセット
3種の高性能フィルターで構成された蛍光測定用フィルターセット
高ブロッキング性能 | 高透過率・高反射率
低価格 | 高耐久性・長寿命
蛍光測定用バンドパスフィルター
高いブロッキング性能・高透過率の蛍光測定用バンドパスフィルター
高ブロッキング性能 OD > 5 | 高透過率 > 85%~
低価格 | 高耐久性・長寿命
蛍光測定用ダイクロイックミラー/フィルター
高透過率・高反射率を持つハードコート仕様のダイクロイックフィルター
広い動作波長範囲 | 高透過率・高反射率 > 90%
低価格 | 高耐久性・長寿命
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