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VGA VIS-SWIRカメラ Owl 640 II

VGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 19000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

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アナログ出力 VGA VIS-SWIRカメラ Owl 640 A

アナログ出力が可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×480(EIA) 640×512(CCIR) | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 400~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

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廉価版 VGA VIS-SWIRカメラ Owl 640 M

低価格かつ堅牢 VGAフォーマットSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : 非冷却 | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | オフセット/ゲイン/補正有

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低ROICノイズ VGA VIS-SWIRカメラ Owl 640 N

SXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 18e@HG | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

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高フレームレート VGA SWIRカメラ Owl 640 S

高フレームレート測定可能
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 900~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | フレームレート : 300 Hz | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

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高分解能 VIS-SWIRカメラ Owl 640 T

10μmピクセルピッチ採用 高分解能測定に最適
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
ピクセルピッチ : 10 μm×10 μm | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

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高速 VIS-SWIRカメラ Owl 320 HS

kHzレートでの測定が可能なSWIRカメラ
画素数 : 320×256 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 400~1700 nm
読出しノイズ : 225e@HG | フレームレート : kHzオーダー(ROI) | オフセット/ゲイン補正有

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ペルチェ冷却型SXGA VIS-SWIRカメラ Ninox 1280

低ノイズかつSXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 1280×1024 | 冷却 : TEC (-15 ) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 4000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

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ペルチェ冷却型VGA VIS-SWIRカメラ Ninox 640 Ⅱ

低ノイズかつVGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (-15 ) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 22e@HG | 暗電流 : 3000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

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-80℃冷却 VGAフォーマット InGaAsカメラ Ninox 640 SU

-80℃冷却 暗電流を最小限に抑えたSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : -80 (水冷) | 波長範囲 : 900~1700 nm
読出しノイズ : 30e@HG | 暗電流 : 100e/p/s | オフセット/ゲイン補正有

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プローブ型ラマン分光システム Ramanシリーズ

要望に沿って構成をお選びいただけるモジュール方式のラマン分光装置
対応波長 532nm785nm | 持ち運び容易
低価格 | 要望に沿ったモジュール構成が可能

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分光測定用小型フローセル MFCシリーズ

光路長標準10mm、石英ガラス窓材の小型フローセル
光路長 2.5100 mmで選択可能 | 容量 2260 μl
透過・吸収測定用モデル、蛍光測定用モデル | 材質選択可能

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拡散/正反射板 RSシリーズ

反射測定用の標準サンプル、膜厚測定用標準サンプルのラインナップ
拡散反射用標準サンプル | 鏡面反射標準サンプル
膜厚測定用標準サンプル

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蛍光測定用フィルターセット

3種の高性能フィルターで構成された蛍光測定用フィルターセット
高ブロッキング性能 | 高透過率・高反射率
低価格 | 高耐久性・長寿命

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蛍光測定用バンドパスフィルター

高いブロッキング性能・高透過率の蛍光測定用バンドパスフィルター
高ブロッキング性能 OD > 5 | 高透過率 > 85%
低価格 | 高耐久性・長寿命

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蛍光測定用ダイクロイックミラー/フィルター

高透過率・高反射率を持つハードコート仕様のダイクロイックフィルター
広い動作波長範囲 | 高透過率・高反射率 > 90%
低価格 | 高耐久性・長寿命

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小型ビームプロファイラー BeamPro compact footprintシリーズ

スペースが限られた場所でも測定可能な薄型ビームプロファイラー
測定波長 1901100 nm | 小さなフットプリント
解像度 最大3864×2176画素 | 取り回しが容易な小型・薄型デザイン

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大面積・小型 ビームプロファイラー BeamPro large areaシリーズ

大面積1インチセンサー使用のビームプロファイラー
測定波長 190~1100 nm | 大面積測定
解像度 最大4512×4512画素 | コンパクトデザイン

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高分解能・大面積・小型 ビームプロファイラー BeamPro small pixelsシリーズ

高分解能でビームパラメーターが測定可能な低価格ビームプロファイラー
測定波長 1901100 nm | 画素サイズ 最小1.85 μm
解像度 最大5472×3648画素 | コンパクトデザイン

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周波数分解光ゲート法超短パルス測定装置 FROGシリーズ

周波数分解光ゲート法を利用した超短パルス用のパルス幅測定装置
対応パルス幅 4 fs 80 ps | 対応波長範囲 4802100 nm
コンパクトデザイン | 多機能ソフトウェア付属

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