分析・検査

レーザーシグナル増強用にAu反射コートを持つ AFM/SPM用プローブ
曲率半径　6nm(typical)　|　反射側Auコーティング
導電性コーティング可能 (PtIr、Au)　|　豊富なラインナップ

共振周波数・力定数の公差が抑えられた安価なAFM/SPM用プローブ
曲率半径　< 10nm(typical)　|　反射側Auコーティング
導電性コーティング可能 (PtIr、Au、W2C)　|　1本で2種の測定に対応

カンチレバーの先端が真上から観察可能な飛び出し型AFM/SPM用プローブ
曲率半径　6nm(typical)　|　カンチレバー先端が観察可能
導電性コーティング可能 (Pt、Au)　|　1本で2種の測定に対応

ティップ先端に傾斜角度で延伸したティップを持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　<10nm(typical)　|　反射側Auコーティング
10°または20°のティップ傾斜角度　|　深い溝、垂直な側壁の測定に有効

ドリルのような細長いティップ形状を持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　5～8 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
深い溝、垂直な側壁の測定に有効　|　1本で2種の測定に対応

曲率半径1～3 nmのDLCティップを備えた高分解能AFM/SPM用プローブ
曲率半径　1～3 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
数nmサイズの超微小物体に最適　|　ダイヤモンドライクカーボン(DLC)使用

曲率半径2 nmのティップを備えた高分解能AFM/SPM用プローブ
曲率半径　2 nm(typical)　|　反射側Alコーティング
数nmサイズの超微小物体に最適　|　スーパーシャープティップ

ダイヤモンドコートされて優れた耐摩耗性を持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　～100 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
優れた耐摩耗性、長寿命　|　1本で2種の測定に対応

単結晶ダイヤモンドに導電性付与した高耐久性・長寿命AFM/SPM用プローブ
曲率半径　7 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　ホウ素ドープにより導電性あり

高い機械的負荷やスクラッチテスト用に作製されたAFM/SPM用プローブ
曲率半径　2～25 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　曲率半径の異なる3モデル

アプローチしやすく、トポグラフィ用途に適したAFM/SPM用プローブ
曲率半径　2～25 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　サンプル表面の静電荷に鈍感

サイズ校正されたSiO2スフィアを固定したAFM/SPM用プローブ
SiO2スフィア　2～15 μm(typical)　|　3種類のモデル
相互作用の研究に有用　|　摩擦力測定・接着力測定

ティップのない、カンチレバーだけのAFM/SPM用プローブ
ティップなし　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　チップ両端に異なるカンチレバーあり

AFM/SPMの観察用基板やテストサンプルに適したHOPG
モザイクスプレッド異なる3モデルを用意　|　複数サイズを用意、特注サイズも対応
平坦で滑らかな表面　|　導電性あり

AFM/SPMの各種校正や評価にお使いいただける校正用グレーティング
豊富なラインナップ　9種類　|　XYZ軸校正やティップ形状評価など
低価格　|　数のグレーティングをまとめた安価なセットあり

AFM/SPMの動作確認用や設定調整などに適したテスト用サンプル
用途の異なる3モデルを用意　|　低価格
ステップ高さ0.75nm、1.5 nmのサンプル　|　線状DNA分子サンプル

高感度・高空間分解能・拡張性を備えたハイエンド共焦点ラマン顕微鏡
高空間分解能XY〜200nm可能　|　全自動操作　|　ガルバノミラー走査
オプション：低波数ラマン測定　|　ブリルアン散乱測定　|　AFM拡張

高感度・コンパクト・高コストパフォーマンスの共焦点ラマン顕微鏡
高スペクトル分解能・高空間分解能　|　全自動操作
低価格・高コストパフォーマンス　|　モジュラー構成

コンパクト・高コストパフォーマンスのオールインワン共焦点ラマン顕微鏡
オールインワンのコンパクト設計　|　全自動操作
低価格・高コストパフォーマンス　|　カスタマイズ可能なモジュラー設計

携帯型システムの利点と研究用機器の性能を兼ね備えたラマン分光装置
レーザー波長：532nm、1064nm　|　非接触・リアルタイム測定
高感度・低ノイズ　|　低価格・簡単操作・簡単メンテナンス